光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第17部分 污染、太陽輻射綜合試驗GBT12085.17-2011.pdf

《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第17部分 污染、太陽輻射綜合試驗》規(guī)定了針對光學(xué)儀器及其零部件所進行的污染、太陽輻射綜合環(huán)境試驗方法的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記內(nèi)容。此標準對如何確保在特定條件下，例如遭受化學(xué)污染以及強烈光照后光學(xué)設(shè)備仍能保持性能提供了詳細的指導(dǎo)。與1995年的舊版相比，該標準引入了許多修改與調(diào)整以更貼合實際應(yīng)用情況和最新的技術(shù)發(fā)展狀況，刪除了如序言、前言等內(nèi)容并重新編寫了標準范圍。它詳細描述了如何執(zhí)行這一系列復(fù)雜的模擬測試以保證在各種可能遇到的真實環(huán)境因素影響下，從工業(yè)生產(chǎn)到現(xiàn)場使用都能確保光學(xué)儀器的耐用性與可靠性，包括明確了相關(guān)測試項目的具體操作步驟，并規(guī)范了有關(guān)試驗條件的內(nèi)容，在試驗條件中對于循環(huán)次數(shù)作出了具體的說明，使得新版本在操作層面上更為嚴格和明確，為提高產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力和質(zhì)量穩(wěn)定性做出了指導(dǎo)作用。同時新增章節(jié)也進一步強調(diào)了在制定標準時應(yīng)考慮到的內(nèi)容框架等，體現(xiàn)了標準與時俱進建設(shè)。

《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第17部分 污染、太陽輻射綜合試驗》適用于設(shè)計制造光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件儀器及光學(xué)零部件的相關(guān)企業(yè)。這些企業(yè)在產(chǎn)品研制、生產(chǎn)過程控制中可以通過遵循本文件中的要求，以確保自身產(chǎn)品的可靠性和耐候性能。尤其是涉及戶外作業(yè)或需長期面對太陽輻射和環(huán)境污染侵蝕風險領(lǐng)域的公司更為適用，如航空航天、海洋探測等領(lǐng)域。通過執(zhí)行此試驗方法可以驗證產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下能否穩(wěn)定工作以及使用壽命預(yù)測，從而有助于企業(yè)在研發(fā)階段優(yōu)化設(shè)計方案并在市場銷售時提供具有競爭優(yōu)勢且品質(zhì)可靠的光學(xué)類產(chǎn)品。