高純金化學分析方法第2部分：ICP-MS-標準加入校正-內標法(GBT 25934.2-2010).pdf
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高純金化學分析方法第2部分：ICP-MS-標準加入校正-內標法(GBT 25934.2-2010).pdf
《高純金化學分析方法第2部分：ICP-MS-標準加入校正-內標法》講解了高純金中雜質元素的測定方法，具體采用電感耦合等離子體質譜（ICP-MS）技術，并通過標準加入校正和內標法來提高分析結果的準確性和可靠性。該標準詳細描述了實驗設備的選擇、樣品前處理步驟、儀器操作條件、數據處理方法以及質量控制措施。此外，文中還提供了具體的測試實例和結果分析，以便于實際操作中的參考和應用。
《高純金化學分析方法第2部分：ICP-MS-標準加入校正-內標法》適用于高純金材料的生產和檢測機構，特別是需要精確測定高純金中微量雜質元素的實驗室。該標準為相關行業的質量控制和產品認證提供了科學依據和技術支持，適用于貴金屬加工、電子材料制造、珠寶首飾生產等領域。
