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本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路中直接數(shù)字頻率合成器(以下簡稱“器件”)電特性的通用測試方法。本文件適用于單通道及多通道直接數(shù)字頻率合成器電路的測試。
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本文件描述了隨時(shí)間的推移,偏條件和溫度對固態(tài)器件影響的試驗(yàn)方法。該試驗(yàn)以加速壽命模式模擬器件工作,主要用于器件的鑒定和可靠性檢驗(yàn)。短期的高溫偏置壽命通常稱之為老煉,可用于締選試驗(yàn)中別除早期失效產(chǎn)品。本.
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本文件規(guī)定了片上系統(tǒng)(SoC)的技術(shù)要求電測試方法和檢驗(yàn)規(guī)則。本文件適用于片上系統(tǒng)(SoC)的設(shè)計(jì)、制造購收。
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本文件適用于半導(dǎo)體器件(分立器件和集成電路),以下簡稱器件。本文件用于確定器件是否由于過負(fù)荷引起內(nèi)部發(fā)熱而燃燒。
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本文件規(guī)定了棋擬數(shù)字(AD)轉(zhuǎn)換器(以下稱 AD 轉(zhuǎn)換或 ADC)的分類求驗(yàn)方法檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存。本文件適用于采用半導(dǎo)體集成電路工藝設(shè)計(jì)制造的 AD 轉(zhuǎn)換器。
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