半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第27部分：靜電放電（ESD）敏感度測試機(jī)器模型（MM）GBT4937.27-2023.pdf

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文檔編號：305576

上傳時間：2023-10-31

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關(guān) 鍵詞：: 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第27部分：靜電放電ESD敏感度測試機(jī)器模型MMGBT4937.27-2023 機(jī)械氣候試驗(yàn) 方法 27 部分靜電放電 ESD 敏感度測試機(jī)器模型

資源簡介：: 《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第27部分：靜電放電（ESD）敏感度測試機(jī)器模型（MM）》講解了靜電放電在半導(dǎo)體行業(yè)中對器件可能造成的損害及其評估方式，重點(diǎn)描述了一種特定的測試方法即機(jī)器模型（MM），這一方法依據(jù)GBT4937.27-2023標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。該文檔詳細(xì)介紹了靜電放電的概念以及其發(fā)生的原因、影響，在現(xiàn)代半導(dǎo)體生產(chǎn)工藝中，任何微小的靜電積累都可能導(dǎo)致精密元件失效或損壞。文章針對半導(dǎo)體制造過程中的靜電防護(hù)與預(yù)防，提供了一個嚴(yán)謹(jǐn)?shù)睦碚摽蚣埽糜诤饬堪雽?dǎo)體器件承受靜電沖擊的能力，為生產(chǎn)流程中的防靜電管理奠定了基礎(chǔ)。通過使用規(guī)定的電壓值對樣品進(jìn)行靜電放電動作模擬，可以測試不同材料與設(shè)計(jì)下的集成電路、分立晶體管或其他形式的半導(dǎo)體組件抵抗ESD的能力。它涵蓋了詳細(xì)的步驟說明，包括測試裝置的準(zhǔn)備、樣本選擇及設(shè)置、具體操作流程到結(jié)果解釋等內(nèi)容，強(qiáng)調(diào)了實(shí)驗(yàn)過程中應(yīng)注意的各種細(xì)節(jié)和條件設(shè)定以確保測試的可靠性和準(zhǔn)確性。

《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第27部分：靜電放電（ESD）敏感度測試機(jī)器模型（MM）》適用于從事半導(dǎo)體研發(fā)、生產(chǎn)、測試、品控等工作人員，尤其是那些負(fù)責(zé)電子電路、IC集成等領(lǐng)域的人員，對于他們理解并防范靜電釋放所帶來的危害具有重要意義。此標(biāo)準(zhǔn)也廣泛應(yīng)用于所有涉及到半導(dǎo)體器件應(yīng)用的行業(yè)領(lǐng)域，例如計(jì)算機(jī)硬件、消費(fèi)類電子產(chǎn)品、通信設(shè)備以及其他包含復(fù)雜電子電路系統(tǒng)的制造業(yè)，幫助相關(guān)人員更好地保證產(chǎn)品的可靠性與耐用性。

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