光學(xué)和光子學(xué) 微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法GBT41869.2-2022.pdf

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文檔編號(hào)：276811

上傳時(shí)間：2023-07-26

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關(guān) 鍵詞：: 光學(xué)和光子學(xué) 微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法GBT41869.2-2022 光學(xué) 光子透鏡陣列部分波前像差測試方法 GBT41869 2022

資源簡介：: 《光學(xué)和光子學(xué) 微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法GBT41869.2-2022》講解了微透鏡陣列中波前像差測試的一系列標(biāo)準(zhǔn)和程序。該文檔定義了術(shù)語和單位并描述了與測量和分析相關(guān)的方法論，提供了不同條件下評(píng)價(jià)微透鏡陣列性能的具體手段。它包括使用多種技術(shù)如激光干涉測量法、掃描式探測器以及波面曲率分析技術(shù)來實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)評(píng)測。文檔詳細(xì)介紹了各種方法適用的情況以及可能遇到的技術(shù)難點(diǎn)，并針對(duì)不同類型的波前像差，從低級(jí)直到高級(jí)，給出詳盡說明。此外，還規(guī)定了一些特定情況下的數(shù)據(jù)采集、處理步驟和算法優(yōu)化，使用戶能夠依據(jù)這些準(zhǔn)則確保測量結(jié)果的一致性和可靠性。

《光學(xué)和光子學(xué) 微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法GBT41869.2-2022》適用于從事微透鏡陣列研發(fā)生產(chǎn)的企業(yè)、科研院校的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室，以及致力于提高光學(xué)元件檢測準(zhǔn)確度的專業(yè)檢測機(jī)構(gòu)和技術(shù)服務(wù)機(jī)構(gòu)。這些領(lǐng)域內(nèi)的工程師和科學(xué)家可以通過遵循該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行科學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及數(shù)據(jù)分析，有助于推動(dòng)微光學(xué)器件制造工藝改進(jìn)，同時(shí)幫助產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)估人員獲得更高精度的檢測成果。這也有利于加強(qiáng)行業(yè)內(nèi)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化建設(shè)，促進(jìn)技術(shù)創(chuàng)新和國際合作交流。

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