少子壽命測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)規(guī)范JJF(閩)1120-2021.pdf

《少子壽命測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)規(guī)范》講解了針對(duì)無(wú)接觸微波光電導(dǎo)衰減測(cè)試法的校準(zhǔn)流程和方法，詳細(xì)規(guī)范了該類少子壽命測(cè)量?jī)x在范圍內(nèi)的適用性，包括其技術(shù)術(shù)語(yǔ)、計(jì)量特性及具體校準(zhǔn)環(huán)境條件等。該文描述了基于JJF?1001-2011通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義和其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)建的基礎(chǔ)規(guī)則和框架下進(jìn)行操作，并明確了載流子復(fù)合壽命相對(duì)示值誤差與重復(fù)性指標(biāo)。文章進(jìn)一步對(duì)校準(zhǔn)條件中的溫度濕度要求、干擾避免措施及參考片的各項(xiàng)參數(shù)要求予以明確說(shuō)明，例如外觀性能、電性能以及包裝存儲(chǔ)要求，并規(guī)定參考片附隨的相關(guān)參數(shù)數(shù)值以確保檢測(cè)準(zhǔn)確性和可靠性。還對(duì)儀器組成結(jié)構(gòu)進(jìn)行了介紹，由脈沖光源到微波采樣系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)等各組件的作用逐一解析，并依據(jù)注入電子-空穴對(duì)和觀測(cè)電導(dǎo)率趨勢(shì)推算載流子壽命原理展開深入分析，提供了詳細(xì)的校準(zhǔn)過(guò)程步驟及其記錄模板。

《少子壽命測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)規(guī)范》適用于采用無(wú)接觸微波光電導(dǎo)衰減測(cè)試法，用于測(cè)定半導(dǎo)體材料載流子復(fù)合壽命的測(cè)量設(shè)備的校準(zhǔn)領(lǐng)域。這一規(guī)范涵蓋光伏產(chǎn)業(yè)及與半導(dǎo)體檢測(cè)相關(guān)的各類生產(chǎn)制造企業(yè)實(shí)驗(yàn)室中所使用的特定范圍壽命測(cè)量?jī)x器。尤其適用于計(jì)量技術(shù)研究院或?qū)I(yè)測(cè)試機(jī)構(gòu)等需要保證高精密檢測(cè)結(jié)果的場(chǎng)景中，對(duì)于提升測(cè)量精度和保障數(shù)據(jù)可靠性有顯著意義。