GBT 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法.pdf
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GBT 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法.pdf
《GBT 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法》講解了透射電鏡在多相體系里對于納米顆粒粒徑測量的科學(xué)原理、實驗步驟和技術(shù)要點等內(nèi)容。該標(biāo)準(zhǔn)文檔指出，使用透射電鏡圖像法可實現(xiàn)準(zhǔn)確測定處于復(fù)雜介質(zhì)環(huán)境中的納米材料尺寸，以達(dá)到精確描述它們微觀形貌與尺度的目的。此過程需要通過特定樣本的前期處理，確保樣品適用于透射電鏡觀測，并利用一系列專業(yè)設(shè)備和軟件對所得圖像進(jìn)行解析，獲取到每個獨立粒子的相關(guān)參數(shù)后求取平均值從而得出結(jié)果。
《GBT 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法》適用于科研人員以及相關(guān)企業(yè)的質(zhì)量檢測人員等。這些人在日常工作中經(jīng)常涉及新型納米材料研發(fā)或者納米級產(chǎn)品質(zhì)量控制工作，在這些過程中往往需要借助透射電鏡這類高效能工具來進(jìn)行精準(zhǔn)測量；也適合高校與研究機(jī)構(gòu)，尤其是專注于物理、化學(xué)等專業(yè)的實驗室作為參考文獻(xiàn)指導(dǎo)具體操作流程。
