GBT 42208-2022 納米技術多相體系中納米顆粒粒徑測量透射電鏡圖像法.pdf

上傳人：一***

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上傳時間：2023-05-29

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資源簡介：: 《GBT 42208-2022 納米技術多相體系中納米顆粒粒徑測量透射電鏡圖像法》講解了透射電鏡在多相體系里對于納米顆粒粒徑測量的科學原理、實驗步驟和技術要點等內容。該標準文檔指出，使用透射電鏡圖像法可實現準確測定處于復雜介質環境中的納米材料尺寸，以達到精確描述它們微觀形貌與尺度的目的。此過程需要通過特定樣本的前期處理，確保樣品適用于透射電鏡觀測，并利用一系列專業設備和軟件對所得圖像進行解析，獲取到每個獨立粒子的相關參數后求取平均值從而得出結果。

《GBT 42208-2022 納米技術多相體系中納米顆粒粒徑測量透射電鏡圖像法》適用于科研人員以及相關企業的質量檢測人員等。這些人在日常工作中經常涉及新型納米材料研發或者納米級產品質量控制工作，在這些過程中往往需要借助透射電鏡這類高效能工具來進行精準測量；也適合高校與研究機構，尤其是專注于物理、化學等專業的實驗室作為參考文獻指導具體操作流程。

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本文標題：GBT 42208-2022 納米技術多相體系中納米顆粒粒徑測量透射電鏡圖像法.pdf
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