光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱GBT12085.2-2010.pdf

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文檔編號(hào)：265077

上傳時(shí)間：2023-06-10

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關(guān) 鍵詞：: 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱GBT12085.2-2010 光學(xué) 光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn) 方法部分低溫高溫濕熱 GBT12085 2010

資源簡(jiǎn)介：: 《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱GBT12085.2-2010》講解了有關(guān)光學(xué)和光學(xué)儀器在極端環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)程序。該標(biāo)準(zhǔn)為一系列實(shí)驗(yàn)提供了詳細(xì)指南，這些實(shí)驗(yàn)涉及將設(shè)備置于低溫和高溫以及濕熱條件下。文檔具體介紹了每種環(huán)境條件下測(cè)試的目的，例如低溫用于評(píng)估材料及其組件在嚴(yán)寒中的機(jī)械和電氣特性，高溫用以考察長(zhǎng)期暴露于熱環(huán)境中的退化情況和可靠性。濕熱環(huán)境模擬濕度較高與溫度交替變化的影響，特別是水分侵入可能性及其引起的銹蝕或其他損害的潛在影響。它涵蓋了從準(zhǔn)備到記錄結(jié)果的所有必要細(xì)節(jié)步驟，規(guī)定了實(shí)驗(yàn)條件設(shè)定、時(shí)間限制及安全措施，并指導(dǎo)使用者解讀測(cè)試后取得的數(shù)據(jù)，旨在保證儀器能夠在廣泛氣候環(huán)境中維持穩(wěn)定性能。

《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱GBT12085.2-2010》適用于所有從事設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、檢測(cè)、使用和維護(hù)各類(lèi)光學(xué)與光學(xué)儀器的企業(yè)和技術(shù)人員。包括但不限于研究機(jī)構(gòu)、制造廠商、認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室等需要驗(yàn)證產(chǎn)品能否經(jīng)受住惡劣環(huán)境考驗(yàn)的行業(yè)從業(yè)者均可受益于此標(biāo)準(zhǔn)。無(wú)論是新產(chǎn)品的研發(fā)階段還是現(xiàn)有型號(hào)的質(zhì)量控制過(guò)程中，都可依照此方法來(lái)確保產(chǎn)品質(zhì)量符合預(yù)期的安全性和可靠性要求。

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