
光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第4部分:鹽霧GBT12085.4-2010.pdf
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- 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第4部分:鹽霧GBT12085.4-2010 光學 光學儀器 環(huán)境 試驗 方法 部分 鹽霧 GBT12085 2010
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《光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第4部分:鹽霧》講解了光學產(chǎn)品及其相關組件在模擬惡劣環(huán)境條件下的耐腐蝕性評估。文檔通過詳細規(guī)定鹽霧試驗的設備、條件及程序,提供了統(tǒng)一且具有權威性的檢測依據(jù)。具體介紹了鹽霧測試箱的結構要求和技術參數(shù),并指明不同類型鹽溶液的選擇方式。此外,它也描述了如何控制試驗環(huán)境中的溫度與濕度以及相應的容許偏差范圍,以確保不同實驗室間測試結果的一致性和可比性。還定義了樣品預處理的具體步驟包括清洗、干燥等準備環(huán)節(jié),明確指出放置樣品時的方向與布局。針對試驗周期內(nèi)的時間節(jié)點和觀察事項進行了嚴格限定。對于腐蝕產(chǎn)物分類和等級劃分給出細致解釋,提供量化判定依據(jù)用于評價被測物表面受損程度。此文檔對促進光學產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定提高和延長使用壽命具有指導意義。
《光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第4部分:鹽霧》適用于從事光學鏡頭、光纖通信設備及其他包含精密光學系統(tǒng)的生產(chǎn)廠家,在產(chǎn)品研發(fā)階段可以據(jù)此選擇材料并設計防護措施;適用于第三方檢驗機構,在認證過程中引用作為標準進行合格評定;亦可用于科研教育領域內(nèi)開展腐蝕機理研究與學術交流;為國際貿(mào)易中相關產(chǎn)品的技術壁壘應對提供解決方案,確保出口商品符合國際先進水平。
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