電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則GBT2424.14-1995.pdf

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則》講解了進(jìn)行太陽輻射試驗(yàn)的一般規(guī)定及指導(dǎo)原則，該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)闡述了關(guān)于電工電子產(chǎn)品在模擬太陽輻射環(huán)境下的測試流程和要求。此標(biāo)準(zhǔn)明確了實(shí)驗(yàn)前準(zhǔn)備工作的要點(diǎn)如試樣的選擇、數(shù)量、表面狀態(tài)保持等事項(xiàng)以及如何安裝和支承試驗(yàn)試樣，對于試樣接受面的規(guī)定進(jìn)行了詳述，以確保每個測試對象能受到規(guī)定的輻照度水平。該文件涵蓋了對太陽輻射試驗(yàn)箱的要求，例如窗口尺寸要滿足使整個輻照面積得到均勻輻照的條件；試驗(yàn)箱內(nèi)的氣流循環(huán)應(yīng)當(dāng)合理，并且具備溫度控制裝置與適當(dāng)?shù)恼彰飨到y(tǒng)，以確保測試環(huán)境可以達(dá)到預(yù)期標(biāo)準(zhǔn)。還規(guī)范了不同階段的操作步驟與程序，在初始檢測環(huán)節(jié)指出了需要完成外觀檢查并確定試樣是否適合接受輻射暴露，在預(yù)處理階段描述了可能采取干燥或其他穩(wěn)定化措施的具體手段；于持續(xù)照射中提及記錄數(shù)據(jù)的方法及時長規(guī)定；最后針對后處理過程中的冷卻、復(fù)檢等工作也作出了明確規(guī)定。此外，導(dǎo)則還提供了一系列判定規(guī)則用以衡量產(chǎn)品在經(jīng)歷指定量級和周期太陽光照射后，其性能變化幅度及其是否仍在可接受范圍之內(nèi)。

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則》適用于電子電氣行業(yè)相關(guān)制造廠商及研發(fā)單位，特別是在產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證階段需要考慮環(huán)境適應(yīng)性的問題。涉及各類可能長期戶外暴露或者有直接接收太陽光可能性的產(chǎn)品開發(fā)者可以通過參照這一導(dǎo)則制定符合實(shí)際需求的試驗(yàn)計(jì)劃，為產(chǎn)品質(zhì)量把關(guān)提供依據(jù)。該導(dǎo)則能夠幫助工程師們評估并提升電器件在自然界的耐候能力，有助于減少因惡劣光照條件造成的產(chǎn)品失效概率。