石英晶體元件參數的測量第6部分：激勵電平相關性(DLD)的測量GBT22319.6-2023.pdf

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文檔編號：331181

上傳時間：2024-06-09

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資源簡介：: 《石英晶體元件參數的測量第6部分：激勵電平相關性》講解了關于石英晶體元件在不同激勵電平下的參數測量方法，特別聚焦于激勵電平依賴特性（DLD）的詳細分析與規定。此標準針對影響測量準確性的多種因素提出了具體的解決方案，并且對用于評估這些特性的設備和操作流程給出了詳盡的要求。對于測量過程中的條件設置、環境要求等做出了精確描述，在測量結果表達方面也設立了明確的標準。該文還深入剖析了不同類型的石英晶體元件可能受到激勵電平影響的程度差異，并根據不同類型制定了差異化的測試方案來適應不同應用場景下的測量需求。為了保證測量結果的準確性與可靠性，它詳細規定了校準方式、參考點的選擇和數據處理方法等內容，以實現測量不確定度的有效控制。

《石英晶體元件參數的測量第6部分：激勵電平相關性》適用于各類涉及石英晶體元件研發、生產和應用的機構或個人，尤其是電子制造業內的專業技術人員和質量檢測部門，包括但不限于科研單位進行的研究工作以及制造商的產品設計優化過程中。本文件能夠為從事通信、導航等領域的企業提供必要的技術支持，確保其使用的石英晶體元件在其特定工作條件下性能穩定，符合相應的規格和標準。

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本文標題：石英晶體元件參數的測量第6部分：激勵電平相關性(DLD)的測量GBT22319.6-2023.pdf
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