集成電路測試用微波探針應用規(guī)范DB51T3207-2024.pdf

上傳人：一***

文檔編號：371337

上傳時間：2025-01-06

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關鍵詞：: 集成電路測試微波探針應用規(guī)范 DB51T3207 2024

資源簡介：: 《集成電路測試用微波探針應用規(guī)范》講解了四川省地方標準對集成電路測試用微波探針的分類、應用要求、故障判定、推薦指數以及維護需求等詳細規(guī)定。該文件明確了微波探針在微波集成電路測試中的選用規(guī)則，確保探針的選擇和使用符合技術要求。規(guī)范中具體描述了微波探針的分類，包括同軸探針和波導探針兩大系列，并進一步細分為小功率同軸探針、高功率同軸探針、低頻波導探針和高頻波導探針。對于每種探針類型，文件規(guī)定了其適用頻率范圍、耐受功率、針尖寬度及扎痕面積等參數。此外，文件還提出了探針的應用要求，涵蓋環(huán)境條件、儀器設備選擇、針尖寬度與焊盤尺寸的匹配關系及針間距的選用標準。為了保證探針的可靠性和使用壽命，文件還提供了故障判定方法以及維護需求的具體指導。

《集成電路測試用微波探針應用規(guī)范》適用于從事微波集成電路設計、生產、檢測的相關企業(yè)及科研機構。特別是那些需要進行高頻電路性能測試的企業(yè)或實驗室，如通信設備制造商、半導體器件研發(fā)單位等。本標準為這些機構提供了一套完整的技術指南，幫助他們正確選擇和使用微波探針，提高測試精度和效率，確保產品質量符合行業(yè)標準和技術規(guī)范。同時，該標準也適用于監(jiān)管部門，用于監(jiān)督和管理相關產品的生產和使用過程。

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