
集成電路靜電放電敏感度測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范JJF 1238-2022.pdf
- 配套講稿:
如PPT文件的首頁顯示word圖標(biāo),表示該P(yáng)PT已包含配套word講稿。雙擊word圖標(biāo)可打開word文檔。
- 特殊限制:
部分文檔作品中含有的國(guó)旗、國(guó)徽等圖片,僅作為作品整體效果示例展示,禁止商用。設(shè)計(jì)者僅對(duì)作品中獨(dú)創(chuàng)性部分享有著作權(quán)。
- 關(guān) 鍵 詞:
- 集成電路靜電放電敏感度測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范JJF 1238-2022 集成電路 靜電 放電 敏感度 測(cè)試 設(shè)備 校準(zhǔn) 規(guī)范 JJF 1238 2022
- 資源簡(jiǎn)介:
-
《集成電路靜電放電敏感度測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范JJF 1238-2022》講解了適用于集成電路靜電放電敏感度測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)的技術(shù)要求和方法,內(nèi)容包括校準(zhǔn)項(xiàng)目的詳細(xì)描述、不同放電模型的參數(shù)設(shè)置及計(jì)量特性分析。該規(guī)范覆蓋了人體模型、機(jī)器模型以及閂鎖模型放電的校準(zhǔn),針對(duì)這三種模型詳細(xì)規(guī)定了其電壓范圍、電流測(cè)量以及其他具體測(cè)試條件,還明確了測(cè)試設(shè)備所需的環(huán)境條件和使用標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的要求。文中對(duì)計(jì)量特性的闡述涉及對(duì)人體模型放電、機(jī)器模型放電及閂鎖模型放電的具體校準(zhǔn)步驟,并且為每一項(xiàng)提供了精確指導(dǎo)。關(guān)于5.1到5.3章節(jié),著重講述了人體模型、機(jī)器模型和閂鎖模型的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)和要求;而從6章至7章則集中介紹校準(zhǔn)過程中需遵循的具體環(huán)境條件以及實(shí)施校準(zhǔn)所用的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)和其它必要設(shè)備的選擇與準(zhǔn)備。最后,在7.1到7.2章節(jié)里,則系統(tǒng)介紹了校準(zhǔn)的具體操作過程,以及在校準(zhǔn)完成后應(yīng)如何合理表達(dá)結(jié)果。附錄部分包含原始記錄格式示例,校準(zhǔn)證書內(nèi)部頁面樣式以及主要項(xiàng)目校準(zhǔn)不確定度評(píng)估的說明,有助于使用者了解整個(gè)流程中可能出現(xiàn)的誤差來源并做出恰當(dāng)處理。
《集成電路靜電放電敏感度測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》適用于需要對(duì)靜電放電敏感性測(cè)試儀進(jìn)行精確標(biāo)定的企業(yè)或機(jī)構(gòu),特別是那些從事微電子元件生產(chǎn)和研發(fā)領(lǐng)域的單位。無論是制造廠家還是質(zhì)檢部門,在確保測(cè)試儀器準(zhǔn)確可靠的基礎(chǔ)上提高產(chǎn)品質(zhì)量都是關(guān)鍵。此規(guī)范特別有益于希望根據(jù)國(guó)際或國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)來調(diào)整測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)人員和工程師,以達(dá)到更高的技術(shù)合規(guī)性和數(shù)據(jù)一致性。此外,對(duì)于參與產(chǎn)品安全性檢測(cè)的第三方認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室或者科研院所而言同樣至關(guān)重要,因?yàn)樗麄兂3P枰凑諊?yán)格的程序來進(jìn)行設(shè)備驗(yàn)證和結(jié)果確認(rèn)。
展開閱讀全文

鏈接地址:http://www.aqiulian.com/doc/262218.html