光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗GBT12085.18-2011.pdf

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關(guān) 鍵詞：: 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗GBT12085.18-2011 光學(xué) 光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法 18 部分濕熱低內(nèi)壓綜合 GBT12085 2011

資源簡介：: 《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗》講解了光學(xué)及光學(xué)儀器在特定環(huán)境條件下進(jìn)行濕熱與低內(nèi)壓綜合作用的實驗標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)修改采用了ISO9022-18:1994的相關(guān)要求，刪除了國際標(biāo)準(zhǔn)的前言并調(diào)整適用我國標(biāo)準(zhǔn)的習(xí)慣表達(dá)。內(nèi)容規(guī)定了此類試驗的具體條件和操作流程，包括試驗箱室與樣品之間溫差不超過3K，且試驗期間允許樣品表面出現(xiàn)凝露，并強調(diào)整個試驗過程中不應(yīng)中斷。此文檔提供了詳細(xì)的條件設(shè)置，比如對于濕熱和低氣壓的不同組合條件下進(jìn)行了定義以及具體的試驗參數(shù)設(shè)定，并對每項步驟進(jìn)行了編號以確保測試流程有序?qū)嵤８戒汚作為輔助材料為相關(guān)人員提供更多信息，以幫助理解試驗過程及其意義。

《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗》適用于所有從事光學(xué)儀器設(shè)計、生產(chǎn)及相關(guān)質(zhì)量檢測工作的專業(yè)人員。它特別針對那些需要評估其產(chǎn)品在濕熱和低內(nèi)壓環(huán)境下性能穩(wěn)定性和可靠性的行業(yè)，如天文觀測設(shè)備、顯微鏡和其他精密光學(xué)儀器制造商。這類試驗有助于保證產(chǎn)品在各種惡劣工作環(huán)境中仍能正常運行，滿足用戶高標(biāo)準(zhǔn)的需求，同時也可用于產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證環(huán)節(jié)，確保上市產(chǎn)品的安全性與有效性。

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