光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第12部分：污染GBT12085.12-2010.pdf

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文檔編號：265113

上傳時間：2023-06-10

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關鍵詞：: 光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第12部分：污染GBT12085.12-2010 光學光學儀器環(huán)境試驗方法 12 部分污染 GBT12085 2010

資源簡介：: 《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第12部分：污染》講解了針對光學及光學儀器的污染環(huán)境測試，詳細說明適用于評價光學設備及其材料對抗各種污染因素的能力。該文件提供了具體的試驗條件、步驟及要求以確保在評估時能夠有效反映真實的使用情況。具體來說，文檔定義了不同類型的污染物對設備性能的影響，并規(guī)定如何引入模擬現(xiàn)實世界中的這些污染源進行實驗室測試。它涵蓋了多種污染物類型，如大氣灰塵、化學蒸汽和油污等，并明確了每種污染物的具體測試參數(shù)與設置方法。同時闡述了在不同環(huán)境下操作儀器可能導致的問題及其對最終測試結果的影響程度，從而幫助確定產(chǎn)品是否能在規(guī)定的惡劣環(huán)境中保持其預定功能。本標準還包含了一系列有關實驗數(shù)據(jù)記錄的要求以及對受試樣品處理過程中的注意事項。

《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第12部分：污染》適用于從事光學儀器研發(fā)、生產(chǎn)制造、質(zhì)量控制和應用的企業(yè)和個人。該標準對于確保設備在其生命周期內(nèi)具備抵御各類環(huán)境污染因素的能力至關重要。特別是在航空航天、軍事裝備、精密測量儀器、科研設備以及其他任何暴露于特殊環(huán)境下工作的光學系統(tǒng)的設計和測試環(huán)節(jié)，可以指導技術人員準確執(zhí)行相關試驗并提供有效的改進方向。此外，這一標準也為第三方檢測機構提供了一個規(guī)范化的測試指南，確保所有符合該標準的產(chǎn)品都經(jīng)歷了嚴格一致的污染耐性檢驗。

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