氧化鐵皮第7部分：游離α-SiO2含量的測定 X射線衍射K值法SNT3323.7-2023.pdf

上傳人：一***

文檔編號：274133

上傳時間：2023-07-14

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關鍵詞：: 氧化鐵皮第7部分：游離-SiO2含量的測定 X射線衍射K值法SNT3323.7-2023 氧化鐵皮部分游離 SiO2 含量測定射線衍射值法 SNT3323 2023

資源簡介：: 《氧化鐵皮第7部分：游離α-SiO2含量的測定 X射線衍射K值法》講解了如何通過X射線衍射技術對氧化鐵皮中的游離α-SiO2進行精準的含量測量方法。文檔詳述了使用該特定方法，包括實驗所需設備、實驗環境的條件控制，以及詳細的實驗步驟操作指南，確保每個實驗室工作人員能夠準確重現測量結果。文章還闡述了K值選擇與校準的重要性，并提供了標準的K值表和參考物質列表。對于樣品制備，它介紹了采樣注意事項，樣品的前處理方式，特別是如何將樣品制成均勻薄片，使X射線可以順利穿透，保證最終分析精度。此外，為了提高測量可靠性，文檔列出了可能引起測量誤差的因素，如晶體擇優取向的影響和衍射強度波動的問題。同時說明了一些常見問題及其解決辦法，并強調了實驗數據記錄和計算過程的標準要求，使得讀者能夠全面掌握并規范實施這項專業測定技術。

《氧化鐵皮第7部分：游離α-SiO2含量的測定 X射線衍射K值法》適用于鋼鐵生產相關企業和檢測機構中涉及到氧化鐵皮研究和技術評估的專業人員。特別適合那些需要定期監測或分析鋼材表面處理產物，即氧化鐵皮中的有害雜質成分α-SiO2含量的工作人員。這包括冶金工程師、質檢員及科研人員等，他們都依賴此標準來進行精確的質量控制和產品性能評價，在遵守國家標準的同時為改進生產工藝提供重要依據。

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