電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z／AM：低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)GBT2423.25-2008.pdf

《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》講解了對(duì)電子電器產(chǎn)品進(jìn)行全面的低溫與低氣壓環(huán)境下性能評(píng)估的試驗(yàn)方案，該標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)范了在模擬極端環(huán)境條件下的具體測(cè)試步驟。它詳細(xì)規(guī)定了進(jìn)行低溫和低氣壓兩種惡劣條件綜合作用下電氣絕緣、材料特性和組件可靠性等方面的變化規(guī)律，并提供了詳盡的操作規(guī)程以保證實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的一致性和準(zhǔn)確性。為了驗(yàn)證產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和制造是否能滿足實(shí)際使用要求以及確保這些設(shè)備在全球不同地理位置都能穩(wěn)定工作，本文獻(xiàn)定義了多個(gè)重要指標(biāo)如溫度范圍（從+15度至-65度），大氣壓力區(qū)間（70 kPa -4.5 kPa），還包括預(yù)冷、保持和恢復(fù)等各階段的時(shí)間設(shè)置和監(jiān)測(cè)頻率等內(nèi)容。同時(shí)強(qiáng)調(diào)了實(shí)驗(yàn)室應(yīng)配置相應(yīng)設(shè)備并滿足相應(yīng)誤差控制需求，確保所有測(cè)試流程符合標(biāo)準(zhǔn)化操作。

《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》適用于需要評(píng)估其產(chǎn)品在特殊環(huán)境下工作的電子和電器制造商及設(shè)計(jì)工程師。該標(biāo)準(zhǔn)尤其適合那些計(jì)劃將其產(chǎn)品應(yīng)用于航空航天、高山或極地等嚴(yán)苛環(huán)境中的企業(yè)。通過(guò)遵循這一規(guī)范執(zhí)行嚴(yán)格的測(cè)試，相關(guān)方可以更深入地了解其生產(chǎn)的商品在這種特定條件下能否正常運(yùn)行，進(jìn)而采取措施改進(jìn)設(shè)計(jì)以提高耐用性。這為制造商確保其產(chǎn)品在整個(gè)生命周期內(nèi)可靠穩(wěn)定地發(fā)揮作用提供了有力依據(jù)。