光學和光學儀器環境試驗方法第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗GBT12085.10-2010.pdf

上傳人：一***

文檔編號：265120

上傳時間：2023-06-10

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關鍵詞：: 光學和光學儀器環境試驗方法第10部分：振動正弦與高溫、低溫綜合試驗GBT12085.10-2010 光學光學儀器環境試驗方法 10 部分振動正弦高溫低溫綜合 GBT12085

資源簡介：: 《光學和光學儀器環境試驗方法第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗》講解了針對光學及光學儀器的特殊環境測試方法。這一標準聚焦于將正弦振動測試與極端溫度條件（即高溫和低溫）相結合作為綜合環境試驗的方法論，旨在評估光學器件在實際工作環境中承受復合應力的能力。標準定義了詳細的參數設定流程以及設備操作規程。文中對不同類別樣品的選擇、安裝固定方案提出了具體指導，并對試驗期間溫度控制精度、變化速率做出了嚴謹要求。關于振動參數，包括頻率范圍、加速度等級、掃描速率為實驗實施提供了精確指標。此份文檔也規定了在振動與溫變過程中必須記錄的關鍵數據及其測量方法，確保數據的有效性與可追溯性。為了保證檢測效果，還列舉了各種情況下試驗結果判定依據及復驗條款等內容，為后續分析提供可靠的支持。

《光學和光學儀器環境試驗方法第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗》適用于涉及設計、制造光學元件的企業和技術服務機構。無論是鏡片、鏡頭組這類單一部件還是復雜的成像系統，該規范對于其研發過程中的質量監控尤為關鍵。尤其是一些需要長期運行且處于變動氣候或震動環境下作業的產品線。本標準有助于提升產品質量水平，保障在復雜應用條件下產品的可靠性。例如軍事裝備中的光電傳感器，航天航空領域的觀測裝置等都依賴此標準進行嚴格的質量控制，以滿足苛刻使用需求。

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